X線・シンクロトロン放射光による表面界面の研究

1. Si(113)表面の構造相転移
2. 高誘電率絶縁膜 (HfO₂) の結晶化過程
3. 金属半導体界面の微小格子歪み
4. SiC 表面構造と酸化過程
5. 原子レベルでの摩擦のメカニズム
6. GaN薄膜のZnO基板上の初期成長制御